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[转贴]   如何让IGBT跑的更快

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发表于 2013-1-25 15:47 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  IGBT关断损耗大;拖尾是严重制约高频运用的拦路虎。这问题由两方面构成:

  1)IGBT的主导器件—GTR的基区储存电荷问题。

  2)栅寄生电阻和栅驱动电荷;构成了RC延迟网络,造成IGBT延迟开和关。

  这里;首先讨论原因一的解决方法。

  IGBT的GTR是利用基区N型半导体,在开通时;通过施加基极电流,使之转成P型,将原来的PNP型阻挡区变为P-P-P通路。为保证可靠导通;GTR是过度开通的完全饱和模式。

  所谓基区储存效应造成的拖尾;是由于GTR过度饱和,基区N过度转换成P型。在关断时;由于P型半导体需要复合成本征甚至N型,这一过程造成了器件的拖尾。

  IGBT预进入饱和;驱动电压就会被DC拉低;使之退出饱和状态;反之IGBT驱动电压上升,VCE下降;接近饱和。对于标准IGBT;这电路可以保证,IGBT的导通压降基本维持在3.5V水平,即IGBT工作在准线性区。这样IGBT的GTR的基极就不会被过驱动,在关断时;几乎没有复合过程。这样器件的拖尾问题就几乎解决了!现在;唯一存在的问题是IGBT的通态压降略高。

  这种方式;已经在逻辑IC里盛行。现在的超高速逻辑电路都是这结构。包括你电脑中的CPU!哈哈!你已享用此原理,其实;你不知道!

  原文转载自中国电力电子产业网

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发表于 2013-1-26 18:47 | 显示全部楼层
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发表于 2013-1-28 09:43 | 显示全部楼层
好东西,学习了!
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发表于 2013-1-29 14:31 | 显示全部楼层
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[LV.1]初来乍到

发表于 2013-5-31 11:10 | 显示全部楼层
咋还  回复不了了呢?
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该用户从未签到

发表于 2013-6-9 13:35 | 显示全部楼层
IGBT关断过快,会产生严重的surge电压,如果吸收电路依旧,这样的改变是否得不偿失?
现在,驱动电压一般要求在13.5~18V。一般做到15V~16V,如果不提高驱动电压,虽然关断便快了,但开通时,要想保证IGBT导通电流满足设计要求,只能放大IGBT增加成本。弄不好,过驱动变成了驱动不足。一般变频器要求输出开关频率在16kHz以内,如果不是做特种行业的变频器,例如输出频率7.2kHz。那么,现在的IGBT应该能够承受。在新的技术和新的器件没出现之前,除非做前沿研究,那么老老实实的解决散热才是产品化的正道。

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发表于 2013-6-17 16:28 | 显示全部楼层
IGBT的导通压降基本维持在3.5V水平,是不是太高了??不适合大电流场合
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发表于 2013-8-9 09:35 | 显示全部楼层
回jorken :是的,我也认为太高了,一般100A以下的模块,通态压降为2.1V左右。
个人没有特别懂楼主转帖表达的意思。是不是“是IGBT驱动电压不要过高,使IGBT不处于过饱和的状态,以此来快速开通关断IGBT,使之拖尾减小?”,但是IGBT的杂散电感的存在,使之不能关断过快,否则极高的di/dt将产出过高的尖峰电压,损坏IGBT。
我倾向于nibafo 的看法。不必过于追求IGBT的开关速度。
另外,请教一个问题:为什么有的行业要求很高的IGBT开关速度。比如16kHz和8kHz相比,有多少好处?
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发表于 2013-9-6 10:16 | 显示全部楼层
那请问楼主这种方法和软开关技术相比如何
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