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[最新资讯] 线上Webinar:Sherlock助力快速精准提升电子产品可靠性

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签到天数: 230 天

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[LV.7]常住居民III

发表于 2019-12-25 16:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

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日期/时间

2019年12月26日,20:00 – 21:00

注:该线上研讨会原定于2019.12.28举办,现已调整为12.26。参会链接将于12.26前以短信/邮件的形式发送给参会者。感谢您的理解和关注!

线上研讨会直播受众:

电子类相关行业客户,如通讯,封装半导体,汽车电子,航空航天,能源,医疗等

讲师简介

徐志敏.png
徐志敏,ANSYS结构高级应用工程师,在电子行业尤其PCB及封装结构产品可靠性有丰富设计仿真经验,负责ANSYS CHINA的CPS结构可靠性方案以及ANSYS Sherlock国内技术支持;长期支持国内大型半导体、封装、通讯企业的仿真设计工作。

内容简介

在电子产品日新月异的今天,器件功耗越来越大,体积却越来越小,使用环境也日趋恶劣。现在电子产品的使用寿命,是电子行业从业人员需要重点考虑的课题。
然而电子产品多热算过热?封装焊球在多少次温度循环后会断裂失效,发生在哪里,失效概率是多少?电子元器件在受振动后会不会发生断裂失效,会满足多少次振动循环?这对于电子工程师而言,都是很难在实际试验测试前给与明确答案的......
当然,借助ANSYS Mechanical等有限元软件,我们可以进行准确的有限元分析和寿命预测。但系统级别电子器件的建模、材料模型获取、网格剖分、寿命预测都会花费大量时间,这可能会花上好几周乃至上月时间。这在产品迭代很快的电子行业,显然是不可接受的。
在ANSYS收购Sherlock后,以上的痛点都可以迎刃而解。ANSYS Sherlock就像夏洛克·福尔摩斯一样,能快速精准的破解系统电子产品可靠性的难题。它是目前业界罕有的针对电子产品可靠性分析软件,基于试验测试、有限元分析的可靠性物理分析方法,直接导入EDA文件,ANSYS Sherlock可以把分析时间由week为单位缩短到Hour为单位;并且可靠性分析结果和试验结果相比较误差可以控制在±20%以内!

主要内容纲要如下:

1.   电子产品可靠性物理分析介绍
2.   ANSYS Sherlock功能简略介绍
3.   ANSYS Sherlock演示:
3.1  电子产品焊球疲劳分析案例
3.2  电子产品温循寿命分析案例
3.3  电子产品振动寿命分析案例
3.4  ANSYS Sherlock和ANSYS Mechanical联合分析

主办方:ANSYS

扫描下方二维码报名:

电子可靠性.png

或点击链接报名:http://event.31huiyi.com/1728141148/index?c=simol
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