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[求助] 不同占空比下MOS的发热工号问题请教

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发表于 2013-9-12 09:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

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现有实验表明mos在20%占空比和80%占空比下的发热完全不一样,在20时发热很严重远远高于80.试验的模型是全桥驱动电路,上桥PWM斩波,下桥恒通恒关控制驱动电机。为什么20时候发热严重?还有是不是MOS的开关损耗要大于导通损耗?请教各位高手。
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发表于 2013-9-18 10:53 | 显示全部楼层
貌似导通损耗与频率没有关系吧,而开关损耗与频率有关,频率一定以及工作条件相同的时候,开关频率是一定的;
导通损耗与占空比有关系,占空比越大,导通损耗应该越大,你这试验与理论相反啊!是不是工作频率、电压、电流等条件不一样啊
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发表于 2013-9-18 10:58 | 显示全部楼层
还有得根据具体电路结构进行分析
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发表于 2013-9-18 11:34 | 显示全部楼层
空载时,也是如此吗?
开关频率很高吗?若是,则应分解出开关频率造成的损耗量;
电流流过电阻产生损耗;
导通时,电流大但电阻极小;
关断时电阻极大,但若漏电流大,是否会造成较大的发热(损耗)呢?
我的猜测:mos管品质或栅极驱动有问题……
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 楼主| 发表于 2013-9-18 12:52 | 显示全部楼层
kaku2013 发表于 2013-9-18 11:34
空载时,也是如此吗?
开关频率很高吗?若是,则应分解出开关频率造成的损耗量;
电流流过电阻产生损耗; ...

空载时不会,电流高了才会。开关频率在20K左右。导通损耗是不是与导通时流过的电流ID和MOS内阻正比?开通关断损耗是那个电压与电流的关系呢?
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 楼主| 发表于 2013-9-18 12:54 | 显示全部楼层
jorken 发表于 2013-9-18 10:58
还有得根据具体电路结构进行分析

应用在电机上,有续流的原因确实需要具体分析
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发表于 2013-9-18 16:16 | 显示全部楼层
开关损耗是开通、关断时,MOS管上电压与电流的乘积,由于电压、电流都有较大值的过渡过程,因此开关时间与频率接近时损耗较大,用示波器一看便知。
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