岁月凉兮 发表于 2019-5-30 13:31

半导体激光芯片检测实例

　　半导体激光器芯片检测，需要SMU输出电流驱动发光二极管，并测量光电传感器的输出电压，同时使用光谱分析仪对发光二极管的发光波长和光谱特性进行检测。
　　
　　由于光电传感器产生的电压很小，需要源表具有很高的分解能力和测量精度。
　　
　　同时为了避免发光二极管过热，提高检测速度，驱动电流需要以窄脉冲扫描的形式进行输出，这就对SMU的响应和测量速度提出了很高要求。这样的检测工作在生产线上可能需要连续24小时进行，SMU的稳定性也至关重要。
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