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机壳磁饱和程度与轴向长度的关系

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发表于 2011-9-26 14:53 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本人在用RM计算一台直流永磁电机时发现,永磁体外的机壳存在饱和现象。而且当增加机壳长度,电机其它尺寸不变时,机壳中的磁密会降低,固定负载下的转速也会降低,效率提高。
这点很不理解,我认为径向磁场电机的机壳磁饱和程度应该只和径向厚度有关,机壳的长度即使变化,磁密也不应该有变化,但是为什么会出现这种结果呢?是我计算的错误吗?请高手指教,谢谢!
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[LV.7]常住居民III

发表于 2011-9-26 15:38 | 显示全部楼层
我也发现过这个问题呢?有点不了解,还有就是再只改变绕组线径,不改变其他的情况下,电机的参数也是很发生变化的。我也不知道是为什么?希望高手们多多帮助呀?谢谢了!
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 楼主| 发表于 2011-9-26 16:50 | 显示全部楼层
回复 2# 402909230


    线径改变了绕组电阻改变,其他参数是会变化的呀。
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 楼主| 发表于 2011-9-28 07:54 | 显示全部楼层
哪位高手指点指点,不胜感激!
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发表于 2011-9-28 08:03 | 显示全部楼层
长度变了,电阻不就变了吗,那流过的电流不就变了,磁场就变了
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 楼主| 发表于 2011-9-29 14:15 | 显示全部楼层
回复 5# fuzy


    我的意思是这样,一般的永磁直流电机定子轭部轴向长度会比永磁体长一点,但是不知道这长的一点会对电机的磁场有什么影响。如果由于定子轭部太薄,磁饱和严重,而径向厚度不能改变,感觉就算是增加轴向长度,定子轭饱和程度也不应该降低,但是rm计算的结果显示,轭部长度增加,轭部磁密也下降。
  如果说和电阻有关,长度增加,作为磁路一部分的轭部有效长度也没变啊,感觉磁密还是不应该变化。
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